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光电实验仪器 > 光电检测系列
2017-06-15
GCESPI-B 电子散斑干涉测量实验系统
一、产品简介 电子散斑干涉( ESPI)技术是一种非接触式全场实时测量技术,因其通用性强、 测量精度高、 频率范围宽及测量简便等优点 ,近年来获得了快速发展。电子散斑干涉无损检测技术可以完成位移、 应变、表面缺陷和裂…
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2017-06-28
GCLS-B 激光散斑微小位移实验仪
一、产品简介 本实验装置主要用来了解激光散斑的形成,掌握一种利用软件分别测量并比较散斑位移和散斑半径的理论值和实验值的方法。本实验采用了CCD观察并采集散斑数字图像,利用计算机对图象进行处理,使实验更贴近现…
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2017-06-15
GCLEDSD-B LED光电特性与色度学测量综合实验平台
一、产品简介 LED(Light Emitting Diode),半导体发光二极管,是一种固态的半导体器件,它可以直接把电转化为光,以其低功耗,高效率,高稳定型等特点在照明、光通信等领域逐步替代传统光源。对LED的各项参数的理解…
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2017-06-15
GCGPYY-B 光谱测量综合实验仪
一、产品简介 随着计算机、CCD技术及微刻蚀技术的发展,微型光谱仪成为了实验室光谱分析的重要工具。我司数字光谱仪选用全球最好的 Richardson 闪耀光栅,灵敏度提升 20%,杂散光降低 50%。同时,采用双闪耀技术,搭载…
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2017-06-15
GCBMCH-B 薄膜厚度测量综合实验
一、产品简介 光学薄膜的物理厚度是薄膜最基本的参数之一,它会影响整个器件的最终性能,因此快速而精确地测量薄膜厚度具有重要的意义。随着计算机、CCD技术及微刻蚀技术的发展,微型光谱仪成为了实验室光谱分析的重要…
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